NIR分析仪 InfraLUM FT-12 WholeGrain

谷物面粉大豆

关于
基于FT-NIR的整粒谷物分析仪，可对整粒谷物进行快速、无试剂的质量检测。可测定小麦、玉米、大豆等谷物的蛋白质、水分、面筋、透亮度等参数。无需样品前处理，约1.5分钟得出结果。

应用 / 使用场景
用于农场、粮库、粮食贸易公司、面粉厂和储存设施的过程控制，进行到货质量检验、批次分拣和现场决策支持。

应用示例 / 各行业收益

• 粮库与收购点：按车逐次进行质量检测，按规范分拣批次，降低入仓误放风险。
• 粮食贸易公司：统一的企业校准可在所有设施中保证质检一致性。
• 面粉厂：到货粮质量检测以支持制粉工艺控制。

优势

• 约1.5分钟内同时测定多项参数。
• 无需样品制备——整粒快速测量（无需磨粉）。
• 无需试剂或消耗品。
• FT-NIR光谱法，测量精度高。
• 多语言友好软件，具备自动系统适用性测试。
• 开放的校准模型，可扩展校准范围和样品类型。
• 支持区域/企业网络化，使用统一校准。
• 提供本地化服务与维护。

操作
通过许可软件 SpectraLum/PRO（证书 990592）进行操作。软件可自动化样品分析、保存结果，并支持自定义校准的开发与导入。

主要应用示例（样品类型与典型参数）

• 小麦 — 蛋白质、含水量、面筋、透明度、纤维
• 玉米 — 蛋白质、含水量、油分、纤维、淀粉
• 大麦 — 蛋白质、含水量、纤维
• 大豆 — 蛋白质、含水量、油分、纤维
• 黑麦 — 蛋白质、含水量、淀粉、纤维、灰分
• 燕麦 — 蛋白质、含水量、纤维
• 三系麦（Triticale）— 蛋白质、含水量、纤维
• 豌豆 — 蛋白质、含水量

产品特点

• 样品自动填充测量池，确保测量结果一致性。
• 根据被测产品自动调节光程（6–35 mm），无需事先选择测池。
• 自动监测谷物与环境温度。

操作步骤
1. 将样品装入测池，在菜单中选择待测产品并启动测量。
2. 约1.5分钟内获得结果。

设备与选件

• NIR分析仪 InfraLUM FT-12 WholeGrain
• 校准数据库（按参数清单提供）
• 工业触摸屏电脑或Windows® PC、CD-ROM、2个USB接口
• 现场安装及操作人员培训
• 服务与维护合同

保修
所有 Lumex 设备均享有12个月保修。

技术参数

• 测量时间：~80–90 s（典型约1.5分钟）
• 标准样品体积：0.5 L
• 光程：可变池 6–35 mm
• 光学系统：干涉仪
• 光谱范围：760–1150 nm（13200–8700 cm-1）
• 外形尺寸（长×高×宽）与重量：530 × 485 × 495 mm，32 kg
• 电源要求：90–240 VAC，50/60 Hz，110 W（不含PC）
• 建议校准/检测频率：每年一次